Wachstum und Charakterisierung von CRXW1-XSE2-Einkristallen
- Desai, P: Wachstum und Charakterisierung von CRXW1-XSE2-Eink
- Format
- Bog, paperback
- Tysk
- 172 sider
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Beskrivelse
?bergangsmetall-Dichalcogenid ist eine Familie von d?nnen Halbleitermaterialien in Form von MX2, wobei M f?r die ?bergangsmetalle Molybd?n (Mo), Wolfram (W), Vanadium (V) usw. und X f?r Chalcogenatome Schwefel (S), Selen (Se), Tellur (Te) steht. Die ?bergangsmetallschicht ist zwischen Schichten von Chalkogenatomen eingebettet. Aufgrund ihrer ausgezeichneten elektrischen und chemischen Eigenschaften, der hohen Mobilit?t der Ladungstr?ger, des geringen Stromverbrauchs, der hohen Flexibilit?t und Dehnbarkeit, des geringen Gewichts, der guten mechanischen Robustheit und der Umweltstabilit?t haben sich diese Materialien als geeignet f?r flexible Gassensoranwendungen erwiesen.
Detaljer
- SprogTysk
- Sidetal172
- Udgivelsesdato18-09-2025
- ISBN139786200677716
- Forlag Verlag Unser Wissen
- FormatPaperback
- Udgave0
Størrelse og vægt
10 cm
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