VLSI Design and Test
- 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Forfatter: info mangler
- Format
- Bog, paperback
- Engelsk
- Indgår i serie
Normalpris
kr. 774,95
Medlemspris
kr. 724,95
- Du sparer kr. 50,00
- Fri fragt
-
Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager) Forventet levering: 13-03-2026
- Kan pakkes ind og sendes som gave
Beskrivelse
This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.
The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
Detaljer
- SprogEngelsk
- Sidetal775
- Udgivelsesdato18-08-2019
- ISBN139789813297661
- Forlag Springer Verlag, Singapore
- FormatPaperback
Størrelse og vægt
10 cm
Anmeldelser
Vær den første!
Log ind for at skrive en anmeldelse.
Findes i disse kategorier...
- Fagbøger
- Andre fagbøger
- Data- og informationsteknologi
- Informatik
- Kunstig intelligens
- Computer vision
- VLSI Design and Test
- Fagbøger
- Andre fagbøger
- Data- og informationsteknologi
- Datakommunikation og computernetværk
- Netværkssikkerhed
- VLSI Design and Test