Over 10 mio. titler Fri fragt ved køb over 499,- Hurtig levering 30 dages retur
Studiebog
Paperback version af VLSI Design and Test

VLSI Design and Test

- 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings

Forfatter: info mangler
Bog
  • Format
  • Bog, paperback
  • Engelsk

Normalpris

kr. 414,95

Medlemspris

kr. 389,95
  • Du sparer kr. 25,00
  • Fri fragt
Som medlem af Saxo Premium 20 timer køber du til medlemspris, får fri fragt og 20 timers streaming/md. i Saxo-appen. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer, derefter koster det 99,-/md. og kan altid opsiges. Løbende medlemskab, der forudsætter betaling med kreditkort. Fortrydelsesret i medfør af Forbrugeraftaleloven. Mindstepris 0 kr. Læs mere

Beskrivelse

This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.

Læs hele beskrivelsen
Detaljer
Størrelse og vægt
coffee cup img
10 cm
book img
15,5 cm
23,5 cm

Anmeldelser

Vær den første!

Log ind for at skrive en anmeldelse.

Findes i disse kategorier...

Se andre, der handler om...

Digital circuits VLSI Multi-processor architectures Network on Chip SRAM arrays