Sokraschenie wremeni testirowaniq pri proektirowanii dlq obespecheniq testiruemosti

Poskol'ku tehnologiq SBIS postoqnno sokraschaetsq do bolee nizkih tehnologicheskih uzlow, nam neobhodimy äffektiwnye metody testirowaniq. V nastoqschee wremq nadezhnost' i testiruemost' qwlqütsq wazhnymi parametrami pri proektirowanii sowremennyh SBIS. Sokraschenie wremeni testirowaniq qwlqetsq osnownoj zadachej w DFT na osnowe skanirowaniq (ili testirowaniq) posledowatel'nosti, kotoraq, buduchi primenennoj k cifrowoj sheme, pozwolit awtomaticheskomu testowomu oborudowaniü otlichit' prawil'noe powedenie shemy ot neprawil'nogo, wyzwannogo defektami. V nastoqschee wremq, ATE mashiny qwlqütsq ochen' dorogimi mashinami, t.e. (i) bol'shee kolichestwo testowyh shablonow trebuet bol'she wremeni dlq wypolneniq, chto priwodit k uwelicheniü stoimosti. (ii) bol'she dannyh arhitektury dlq äkonomicheski äffektiwnogo ispytaniq. Takim obrazom, bol'shij ob#em shablonow trebuet bol'shej emkosti hranilischa. Bol'shij ob#em shablonow takzhe trebuet bol'she wremeni na operaciü skanirowaniq w IU. DFT Compiler ot Synopsys ispol'zuetsq dlq generacii werificirowannogo dizajna skanirowaniq. Instrument ATPG generiruet wektory, kotorye mogut opredelit' ob#em, trebuüschij bol'she pamqti dlq hraneniq, chto priwedet k uwelicheniü zatrat. Vposledstwii instrument ATPG generiruet statisticheskij otchet, kotoryj soobschaet nam informaciü o kategorii neisprawnosti, kotoruü my dolzhny interpretirowat' dlq otladki problem pokrytiq. Osnownoe wnimanie udelqetsq uluchsheniü wremeni testirowaniq putem izmeneniq porqdka qcheek skanirowaniq.