- Format
- E-bog, PDF
- Engelsk
- Indgår i serie
Er ikke web-tilgængelig
E-bogen er DRM-beskyttet og kræver et særligt læseprogram
Normalpris
kr. 3.654,95
Medlemspris
kr. 3.589,95
Beskrivelse
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Detaljer
- SprogEngelsk
- Udgivelsesdato11-11-2013
- ISBN139783540389675
- Forlag Springer Berlin Heidelberg
- FormatPDF
Anmeldelser
Vær den første!
Log ind for at skrive en anmeldelse.
Findes i disse kategorier...
- Fagbøger
- Andre fagbøger
- Matematik og naturvidenskab
- Fysik
- Materialer / stoffaser
- Kondenserede fasers fysik (væskeform og faststoffysik)
- Scanning Electron Microscopy