Instrumentação de Monitorização da Radiação Espacial

As partículas carregadas podem causar efeitos adversos nas naves espaciais e nos componentes electrónicos. Os efeitos de radiação das partículas de alta energia causam carga superficial da nave espacial, degradação ou falha permanente dos componentes electrónicos e dos sub sistemas por efeitos de evento único, danos de deslocamento e efeitos de dose ionizante na nave espacial. Os efeitos de transientes de carga induzidos por iões podem ser divididos nas três categorias básicas: Dose ionizante total (TID), transferência linear de energia (LET) e perturbação por evento único (SEU). O efeito TID é a acumulação de energia ionizante depositada durante um longo período sobre materiais semicondutores. A TID ocorre principalmente devido aos electrões e prótons, o que pode causar falha do dispositivo. A perda ou transferência total de energia para o material por unidade de distância de viagem através do material é chamada LET Os dispositivos electrónicos podem ser perturbados pela passagem de electrões energéticos, prótons ou iões mais pesados que podem alterar o estado de um circuito, produzindo "efeitos de evento único". SEU e perturbações de múltiplos bits (MBU) que alteram o estado lógico dos nós internos do circuito. Pode ser reposto por diferentes operações eléctricas. Estes erros são chamados soft errors, que são recuperáveis.