Over 10 mio. titler Fri fragt ved køb over 499,- Hurtig levering 30 dages retur
Studiebog
Paperback version af Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing af Debashis Bhattacharya, John P. Hayes

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

Af
Bog E-bog
  • Format
  • Bog, paperback
  • Engelsk

Normalpris

kr. 774,95

Medlemspris

kr. 724,95
  • Du sparer kr. 50,00
  • Fri fragt
Som medlem af Saxo Premium 20 timer køber du til medlemspris, får fri fragt og 20 timers streaming/md. i Saxo-appen. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer, derefter koster det 99,-/md. og kan altid opsiges. Løbende medlemskab, der forudsætter betaling med kreditkort. Fortrydelsesret i medfør af Forbrugeraftaleloven. Mindstepris 0 kr. Læs mere

Beskrivelse

Læs hele beskrivelsen
Detaljer
Størrelse og vægt
coffee cup img
10 cm
book img
15,5 cm
23,5 cm

Anmeldelser

Vær den første!

Log ind for at skrive en anmeldelse.

Serier

The Springer International Series in Engineering and Computer Science The Springer International Engineering and Computer Science Springer International Series in Engineering and Computer Sc Springer International Series in Engineering and Computer Science

Findes i disse kategorier...

Se andre, der handler om...

Design Technology Model Development Logic Stability Algorithms Modeling Simulation VLSI