Over 10 mio. titler Fri fragt ved køb over 499,- Hurtig levering 30 dages retur

Handlungskompetenz erfassen mit der Critical Incident Technique

- Eine qualitative Forschungstechnik

Bog
  • Format
  • Bog, paperback
  • Tysk
  • 36 sider

Normalpris

kr. 84,95

Medlemspris

kr. 79,95
  • Du sparer kr. 5,00
  • Fri fragt
Som medlem af Saxo Premium 20 timer køber du til medlemspris, får fri fragt og 20 timers streaming/md. i Saxo-appen. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer, derefter koster det 99,-/md. og kan altid opsiges. Løbende medlemskab, der forudsætter betaling med kreditkort. Fortrydelsesret i medfør af Forbrugeraftaleloven. Mindstepris 0 kr. Læs mere

Beskrivelse

Die Critical Incident Technique (CIT) ist eine Methode, mit der situative Bedingungen kritischer Ereignisse und das Handeln der darin involvierten Personen aufgedeckt werden k nnen. Durch die Fokussierung kritischer Ereignisse lassen sich detaillierte Informationen ber Situationen, Prozesse und organisationale Settings zutage f rdern, in denen das Bew ltigungshandeln der Beteiligten von Interesse ist. Die CIT eignet sich, um Vers umnisse, aber auch besondere Kompetenz, zu identifizieren. Sie erm glicht es, Vorf lle systematisch auszuwerten, Gefahren zu erfassen, sie zu antizipieren und Fehler so zuk nftig zu vermeiden. Insbesondere in Hochrisiko-Organisationen wie Krankenhaus-Intensivstationen, in Kernkraftwerken und in der Flugsicherung, aber auch in der Jugendhilfe und im Strafvollzug, wird die Methode genutzt. Wie genau sie zur Anwendung kommen kann und welche Fallstricke es dabei zu beachten gilt, wird im vorliegenden Text kompakt geschildert.

Læs hele beskrivelsen
Detaljer
  • SprogTysk
  • Sidetal36
  • Udgivelsesdato07-05-2020
  • ISBN139783751929646
  • Forlag BoD - Books on Demand
  • FormatPaperback
  • Udgave0
Størrelse og vægt
  • Vægt68 g
  • Dybde0,2 cm
  • coffee cup img
    10 cm
    book img
    14,8 cm
    21 cm

    Anmeldelser

    Vær den første!

    Log ind for at skrive en anmeldelse.

    Findes i disse kategorier...