Over 10 mio. titler Fri fragt ved køb over 499,- Hurtig levering 30 dages retur
Studiebog
Hardback version af Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices

Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices

Forfatter: info mangler
Bog
  • Format
  • Bog, hardback
  • Engelsk

Normalpris

kr. 1.084,95

Medlemspris

kr. 1.029,95
  • Du sparer kr. 55,00
  • Fri fragt
Som medlem af Saxo Premium 20 timer køber du til medlemspris, får fri fragt og 20 timers streaming/md. i Saxo-appen. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer, derefter koster det 99,-/md. og kan altid opsiges. Løbende medlemskab, der forudsætter betaling med kreditkort. Fortrydelsesret i medfør af Forbrugeraftaleloven. Mindstepris 0 kr. Læs mere

Beskrivelse

An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.

Læs hele beskrivelsen
Detaljer
Størrelse og vægt
coffee cup img
10 cm
book img
17 cm
24,4 cm

Anmeldelser

Vær den første!

Log ind for at skrive en anmeldelse.

Serier

NATO Science Partnership Subseries: 3 NATO Science Series. Partnership Sub-Series 3, High Technology, V. 47 NATO Science Partnership Sub-series 3: High Technology NATO Science Partnership Sub-Series, 3

Findes i disse kategorier...

Se andre, der handler om...

Chemistry Materials science Oxidation Surface Cutting Dielectrics Defects Silicon Electrical engineering Surface science