Over 10 mio. titler Fri fragt ved køb over 499,- Hurtig levering 30 dages retur
Hardback version af Electron and Ion Microscopy and Microanalysis

Electron and Ion Microscopy and Microanalysis

- Principles and Applications, Second Edition,

Forfatter: info mangler
Bog
  • Format
  • Bog, hardback
  • Engelsk
  • 856 sider

Normalpris

kr. 3.989,95

Medlemspris

kr. 3.929,95
  • Du sparer kr. 60,00
  • Fri fragt
Som medlem af Saxo Premium 20 timer køber du til medlemspris, får fri fragt og 20 timers streaming/md. i Saxo-appen. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer, derefter koster det 99,-/md. og kan altid opsiges. Løbende medlemskab, der forudsætter betaling med kreditkort. Fortrydelsesret i medfør af Forbrugeraftaleloven. Mindstepris 0 kr. Læs mere

Beskrivelse

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

Læs hele beskrivelsen
Detaljer
  • SprogEngelsk
  • Sidetal856
  • Udgivelsesdato25-07-1991
  • ISBN139780824785567
  • Forlag CRC Press Inc
  • FormatHardback
  • Udgave2
Størrelse og vægt
  • Vægt1587 g
    • coffee cup img
    10 cm
    book img
    17,8 cm
    25,4 cm

    Anmeldelser

    Vær den første!

    Log ind for at skrive en anmeldelse.

    Findes i disse kategorier...

    Se andre, der handler om...

    Field emission Thin section Grain Boundary Wave function TEM Thin film Saed CBED Pattern Backscattered Electrons Dark Field Images