Over 10 mio. titler Fri fragt ved køb over 499,- Hurtig levering 30 dages retur
Studiebog
Hardback version af Electromigration and Electronic Device Degradation

Electromigration and Electronic Device Degradation

Forfatter: info mangler
Bog
  • Format
  • Bog, hardback
  • Engelsk

Normalpris

kr. 1.999,95

Medlemspris

kr. 1.934,95
  • Du sparer kr. 65,00
  • Fri fragt
Som medlem af Saxo Premium 20 timer køber du til medlemspris, får fri fragt og 20 timers streaming/md. i Saxo-appen. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer, derefter koster det 99,-/md. og kan altid opsiges. Løbende medlemskab, der forudsætter betaling med kreditkort. Fortrydelsesret i medfør af Forbrugeraftaleloven. Mindstepris 0 kr. Læs mere

Beskrivelse

Addresses electromigration failure modes in electronics covering both theory and experiments. Reviews silicon and GaAs technologies. Various rate controlling details are summarized including an investigation of temperature dependence. Concludes with a discussion regarding current status and future plans for electromigration resistant advanced metallization systems for VLSI.

Læs hele beskrivelsen
Detaljer
  • SprogEngelsk
  • Sidetal360
  • Udgivelsesdato07-02-1994
  • ISBN139780471584896
  • Forlag Wileyinterscience
  • FormatHardback
Størrelse og vægt
  • Vægt680 g
  • Dybde2 cm
    • coffee cup img
    10 cm
    book img
    16 cm
    24 cm

    Anmeldelser

    Vær den første!

    Log ind for at skrive en anmeldelse.

    Findes i disse kategorier...