Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Af
- Format
- E-bog, ePub
- Engelsk
- 224 sider
- Indgår i serie
Er ikke web-tilgængelig
E-bogen er DRM-beskyttet og kræver et særligt læseprogram
Normalpris
kr. 3.219,95
Medlemspris
kr. 3.154,95
Beskrivelse
Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. The book focuses on the methods used to characterize small point-defect clus
Detaljer
- SprogEngelsk
- Sidetal224
- Udgivelsesdato21-11-2000
- ISBN139781040205860
- Forlag Crc Press
- FormatePub
Anmeldelser
Vær den første!
Log ind for at skrive en anmeldelse.
Findes i disse kategorier...
- Fagbøger
- Andre fagbøger
- Teknologi, ingeniørvidenskab og landbrug
- Maskinteknik og materialer
- Materialelære
- Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
- Fagbøger
- Andre fagbøger
- Matematik og naturvidenskab
- Fysik
- Anvendt fysik
- Medicinsk fysik
- Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy