Over 10 mio. titler Fri fragt ved køb over 499,- Hurtig levering 30 dages retur
Hæftet version af An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science af Sarah Fearn

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

Af
Bog
  • Format
  • Bog, hæftet
  • Engelsk
  • 68 sider

Normalpris

kr. 514,95

Medlemspris

kr. 464,95
  • Du sparer kr. 50,00
  • Fri fragt
Som medlem af Saxo Premium 20 timer køber du til medlemspris, får fri fragt og 20 timers streaming/md. i Saxo-appen. De første 7 dage er gratis for nye medlemmer, derefter koster det 99,-/md. og kan altid opsiges. Løbende medlemskab, der forudsætter betaling med kreditkort. Fortrydelsesret i medfør af Forbrugeraftaleloven. Mindstepris 0 kr. Læs mere

Beskrivelse

This book highlights the application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for high-resolution surface analysis and characterization of materials. While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties.

Læs hele beskrivelsen
Detaljer
  • SprogEngelsk
  • Sidetal68
  • Udgivelsesdato16-10-2015
  • ISBN139780750328005
  • Forlag Morgan & Claypool Publishers
  • MålgruppeFrom age 0
  • FormatHæftet
Størrelse og vægt
  • Vægt136 g
  • Dybde0,4 cm
    • coffee cup img
    10 cm
    book img
    17,8 cm
    25,4 cm

    Anmeldelser

    Vær den første!

    Log ind for at skrive en anmeldelse.

    Findes i disse kategorier...